Tests aux Radiations

Vous commercialisez ou utilisez un système ou un ASIC et vous souhaitez connaitre sa sensibilité aux rayonnements (Neutrons, ions lourds, protons, Flash X, TID, …)

Notre expertise vous accompagnera dans cette problématique

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Notre Offre

En raison de l’intégration technologique continue et la course vers les performances et la miniaturisation, les effets des radiations, quelles soit naturelles ou artificielles, prennent un rôle prépondérant sur la défiabilisation des composants électroniques.

Aujourd’hui, la menace des radiations ionisantes extrinsèques est aussi importante pour la fiabilité des circuits intégrés que ne le sont les mécanismes de défaillances intrinsèques (porteurs chauds, claquages par contaminants métalliques, disruptions diélectriques, etc.).

C’est dans ce contexte que EASii IC a développé l’activité ASER (Accelerated Soft Error Rate Test) qui développe des solutions de tests et de caractérisations pour l’évaluation du taux d’aléas logiques plus connus sous l’appellation de « Soft Error » induit par les radiations naturelles et artificielles sur des composants et systèmes électroniques et microélectroniques, de plus en plus rapides et complexes.

Le spectre de compétences s’étend à l’évaluation de la sensibilité aux rayonnements face aux effets singuliers (SEE, Single Effect Error) Effets de dose ionisante (TID) couvrant un large panel d’application (transport (automobile, avionique), spatial, santé, sécurité …)

Types de tests

  • Neutrons (AtmosphĂ©riques, 14 MeV et Thermiques)
  • Particules alpha (effets des contaminants naturels)
  • Ions lourds, protons, Flash X
  • TID (Co60, Xray)
  • Effets de synergies SEE/TID ou TID/SEE

Standards

  • Standard MIL-STD-883
  • JEDEC JESD89 (standard de test pour les neutrons et les particules Alpha)
  • ESA ESCC 22900 (spĂ©cifications pour les tests aux radiations et dose totale)
  • AEC Q100 (Tests Automotives pour les mesures de soft erreur)

Nos réalisations

EASii IC dispose d’une des premières plateformes de test en temps réel au niveau européen

Nous définissons la stratégie de test en fonction du type de composant et de la contrainte radiative Notre Banc de test est adapté à différents types d’accélérateurs et générateurs de particules

A ce jour plus de 30 références de composants testés (90, 65, 45, 32 et 28 nm)

Validation de prototypage avec des fondeurs et utilisateurs

  • MĂ©moires (RAM, ROM ...)
  • Processeurs (SPARC V8 LEON, ARM Cortex-M4 …)
  • Évaluation du FIT/Chip ou /Mbit pour des composants COTS et circuits dĂ©monstrateurs
  • Plateformes de tests en Temps RĂ©el (+256 composants testĂ©s en parallèle)

1ère Plateforme de Test en Temps Réel au niveau Européen

Expertise cartes

  • Analyse critique du design, choix des composants et technologies
  • Analyse des dĂ©faillances